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LABORATORIO: CNR INO<\/strong><\/p>\n \u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0\u00a0 <\/strong><\/p>\n NOME STRUMENTO <\/strong><\/p>\n Micro-profilometro laser a scansione<\/p>\n <\/p>\n INFORMAZIONI GENERALI<\/strong><\/p>\n I sistemi per l\u2019acquisizione di dati 3D hanno raggiunto, negli ultimi anni, un elevato grado di precisione grazie all’evoluzione della tecnologia laser. Questo ha reso possibile ottenere mappe topografiche a risoluzione micrometrica che consentono di quantificare dettagli tridimensionali delle superfici analizzate prima impensati. Il rilievo topografico ad alta risoluzione di superfici quasi piane si \u00e8 dimostrato estremamente utile per quantificare l’entit\u00e0 dei distacchi e della craquelure<\/em> nello strato pittorico, per documentare lo stato di conservazione del dipinto, per monitorare le deformazioni del supporto dovute ad agenti ambientali o i cambiamenti morfologici conseguenti a interventi di restauro. Mediante la micro-profilometria \u00e8 possibile effettuare, in maniera completamente non a contatto e non-invasiva, il rilievo di una variet\u00e0 di superfici, indipendentemente dalle loro propriet\u00e0 cromatiche, di riflessione e diffusione.<\/p>\n <\/p>\n DETTAGLI TECNICI<\/strong><\/p>\n Il micro-profilometro ottico realizzato presso CNR-INO \u00e8 composto da una sonda conoscopica commerciale montata su due traslazioni lineari motorizzate ad alta precisione che scansionano una superficie di area massima 30×30 cm2<\/sup>\u00a0ad una distanza di misura di 4 cm. Il risultato \u00e8 una mappa topografica costituita da una griglia regolare di punti che contengono l\u2019informazione di quota entro un intervallo di profondit\u00e0 (range di misura dello strumento) di 8 mm. Lo strumento ha una risoluzione assiale (in quota) di quasi 1 \u03bc<\/span>m con una precisione complessiva migliore di 6\u00a0\u03bc<\/span>m, e una risoluzione laterale di 20 \u03bc<\/span>m.<\/p>\n L’intero sistema \u00e8 controllato via computer: \u00e8 possibile impostare la dimensione dell\u2019area di misura, la distanza di campionamento nelle due direzioni di scansione, la potenza del laser e la frequenza di acquisizione. Il tempo di acquisizione dipende dai parametri di misura impostati, e aumenta all\u2019aumentare della distanza di campionamento (ad esempio, alla massima velocit\u00e0 di scansione, per l\u2019acquisizione di un\u2019area di 30×30 cm2<\/sup>\u00a0con passo di campionamento 100 \u03bc<\/span>m occorrono circa 2.5 h).<\/p>\n Lo strumento consente il rilievo di superfici di varia riflettivit\u00e0, con un angolo di incidenza molto vicino all’angolo radente (cio\u00e8 \u00e8 possibile effettuare scansioni con un’incidenza quasi parallela alla superficie). Inoltre, non essendo sensibile ai gradienti di colore, la misura \u00e8 efficace anche su superfici caratterizzate da un elevato contrasto cromatico. Le mappe topografiche possono essere visualizzate sia mediante software per l\u2019analisi di modelli 3D sia come immagini in scala di grigio o mappe a colori. \u00c8 poi possibile elaborare tali immagini in modo da simulare la direzione di provenienza della luce, ottenendo un risultato molto simile alla tradizionale fotografia in luce radente senza per\u00f2 l\u2019informazione di colore che pu\u00f2 essere sovrapposta in un secondo tempo.<\/p>\n Il dato 3D ottenuto, infatti, pu\u00f2 essere efficacemente integrato con le informazioni provenienti da altre tecniche di analisi ad immagine (immagine a colori, riflettografia IR, immagine UV, \u2026). Ci\u00f2 facilita l’interpretazione dei risultati, permettendo un’identificazione immediata delle caratteristiche misurate. La mappa topografica pu\u00f2 anche essere utilizzata per valutare la rugosit\u00e0 della superficie misurata.<\/p>\n <\/p>\n Referente: <\/p>\n
Raffaella Fontana raffaella.fontana@ino.cnr.it<\/a><\/p>\n