[et_pb_section fb_built=”1″ _builder_version=”4.7.7″ _module_preset=”default”][et_pb_row column_structure=”1_3,2_3″ _builder_version=”4.7.7″ _module_preset=”default”][et_pb_column type=”1_3″ _builder_version=”4.7.7″ _module_preset=”default”][et_pb_image src=”http:\/\/www.e-rihs.it\/wp-content\/uploads\/2023\/01\/XRF-confocal-mapping.jpg” title_text=”XRF confocal mapping” _builder_version=”4.7.7″ _module_preset=”default” hover_enabled=”0″ sticky_enabled=”0″][\/et_pb_image][\/et_pb_column][et_pb_column type=”2_3″ _builder_version=”4.7.7″ _module_preset=”default”][et_pb_text _builder_version=”4.7.7″ _module_preset=”default”]<\/p>\n
LABORATORIO: CNR ISPC –\u00a0XRAYLab<\/strong><\/p>\n \u00a0<\/strong><\/p>\n NOME STRUMENTO<\/strong><\/p>\n Scanner mobile XRF confocale sviluppato da XRAYLab<\/p>\n \u00a0<\/strong><\/p>\n INFORMAZIONI GENERALI<\/strong><\/p>\n La tecnica XRF confocale (CXRF) \u00e8 un potente mezzo di indagine stratigrafica (1D) e per l\u2019imaging elementale in tre dimensioni (3D) di campioni aventi una struttura complessa lungo il loro spessore. L\u2019analisi CXRF \u00e8 non-distruttiva, non \u00e8 necessaria alcuna preparazione dei campioni e pu\u00f2 essere applicata in situ. Un tipico esempio di applicazione della tecnica CXRF riguarda lo studio della stratigrafia pittorica di un dipinto.<\/p>\n La tecnica CXRF \u00e8 basata sulla rivelazione della fluorescenza X indotta sul campione da un fascio di raggi X emesso da un tubo che viene focalizzato ad una dimensione su scala micrometrica tramite l\u2019utilizzo di ottiche policapillari. Il sistema di rivelazione \u00e8 anch\u2019esso equipaggiato con una seconda ottica policapillare con dimensioni del fuoco confrontabili a quelle del fascio X primario. L\u2019incrocio dei fuochi delle due ottiche policapillari (quella montata sulla sorgente e quella del rivelatore) definisce un volume analitico con il quale viene effettuata la scansione dell\u2019opera in studio. La scansione pu\u00f2 avvenire o lungo lo spessore (indagine 1D) oppure nelle tre dimensioni (indagine 3D). Nel primo caso, l\u2019indagine CXRF fornisce la distribuzione degli elementi chimici lungo la sequenza stratigrafica dell\u2019opera mentre, nel secondo caso, fornisce le immagini tridimensionali delle distribuzioni elementali nei materiali investigati con risoluzione spaziale nella scala dei micron. Data la natura penetrante dei raggi X e il loro assorbimento nella materia, lo spessore analizzabile mediante la tecnica CXRF dipende dalla tipologia di materiale investigato. In genere \u00e8 possibile ottenere informazioni su uno spessore dell\u2019ordine di 100-150 micron. <\/p>\n DETTAGLI TECNICI<\/strong><\/p>\n Lo scanner CXRF \u00e8 composto da una testa di misura spettrometrica equipaggiata con tubo a raggi X microfocus con anodo di Mo di bassa potenza (30W) accoppiato ad un\u2019ottica policapillare fortemente focalizzante. Il fuoco del fascio in uscita dalla sorgente X primaria (tubo + ottica) \u00e8 pari a circa 10 micron ad una distanza di 3.5mm dalla superficie del campione. Il sistema di rivelazione \u00e8 posizionato a 90 gradi rispetto alla direzione del fascio primario. Questo consiste di un rivelatore SDD (50 mm2<\/sup> di area attiva e 130 eV risoluzione energetica a 5.9 keV) accoppiato ad un policapillare (semi-lente) con un fuoco sul campione pari anch\u2019esso a10 micron. L\u2019incrocio dei due fuochi consente di definire il volume analitico con cui effettuare la scansione CXRF dei campioni lungo lo spessore Z (indagine spot 1D) o nelle tre direzioni XYZ (mapping 3D). Sulla testa spettrometrica \u00e8 presente un microscopio ottico a lunga distanza focale ed elevata risoluzione per effettuare indagini CXRF video-guidate. In una singola scansione lo strumento pu\u00f2 coprire un\u2019area di 20x20x20cm3<\/sup> grazie ad un sistema di assi motorizzati e automatizzati. La risoluzione spaziale delle misure \u00e8 dell\u2019ordine di 3-5 micron.<\/p>\n Il sistema CXRF opera le scansioni in modo continuo con una velocit\u00e0 massima pari a 50 mm\/sec. Al fine di garantire una sufficiente statistica di conteggio le misure vengono effettuate solitamente con un tempo di acquisizione per pixel compreso tra 100ms e 3sec. Al fine di ridurre i tempi di misura, si suggerisce di utilizzare l\u2019imaging CXRF tridimensionale limitatamente a piccole aree di interesse dell\u2019opera in studio e l\u2019analisi stratigrafica puntuale per studi sistematici.<\/p>\n Il sistema \u00e8 dotato di una unit\u00e0 centrale (CU) per il controllo dei parametri operativi di misura e dei sistemi di scurezza per l\u2019opera. Essa permette le scansioni in tecnologia real-time e le immagini tridimensionali (o delle stratigrafie puntuali) sono disponibili per gli utenti gi\u00e0 durante le misure permettendo cos\u00ec di definire la strategia sperimentale durante le misure e di individuare i punti di maggiore interesse da investigare.<\/p>\n <\/p>\n Referente: <\/p>\n
Le analisi possono essere eseguite su tutti i materiali di natura stratigrafica composta da elementi inorganici.\u00a0Esempi di applicazionesono: opere pittoriche su qualsiasi supporto, smalti, ceramiche invetriate, patine superficiali di arricchimento o degrado<\/p>\n
Paolo Romano francescopaolo.romano@cnr.it<\/a><\/span><\/p>\n