[et_pb_section fb_built=”1″ _builder_version=”4.7.7″ _module_preset=”default”][et_pb_row column_structure=”1_3,2_3″ _builder_version=”4.7.7″ _module_preset=”default” hover_enabled=”0″ sticky_enabled=”0″][et_pb_column type=”1_3″ _builder_version=”4.7.7″ _module_preset=”default”][et_pb_image src=”http:\/\/www.e-rihs.it\/wp-content\/uploads\/2024\/04\/Sistema-macro-XRF-Crono-di-XGLab.jpg” title_text=”Sistema macro-XRF Crono di XGLab” _builder_version=”4.7.7″ _module_preset=”default”][\/et_pb_image][\/et_pb_column][et_pb_column type=”2_3″ _builder_version=”4.7.7″ _module_preset=”default”][et_pb_text _builder_version=”4.7.7″ _module_preset=”default”]<\/p>\n
LABORATORIO: CNR SCITEC<\/strong><\/p>\n <\/p>\n NOME STRUMENTO<\/strong><\/p>\n Sistema macro-XRF Crono di XGLab<\/p>\n <\/p>\n INFORMAZIONI GENERALI<\/strong><\/p>\n La spettroscopia di fluorescenza a raggi X (XRF) a scansione consente la mappatura multi-elementale (elementi con numero atomico Z>12) di macro-aree sulla superficie di un manufatto in modo non invasivo. Le mappe di distribuzione elementare sono di grande interesse nell\u2019ambito della scienza del patrimonio culturale per l’esame di superfici policrome o di inchiostri in documenti storici.<\/p>\n <\/p>\n DETTAGLI TECNICI<\/strong><\/p>\n Il sistema macro-XRF Crono di XGLab consente misure XRF in scansione in modo non invasivo ed in situ per la ricostruzione di mappe di distribuzione elementali dei materiali compositivi di un manufatto. Lo strumento \u00e8 dotato di una testa di misura compatta e leggera composta da una sorgente a raggi X con anodo Rh (50kV e 200\u00b5A) e da un Silicon Drift Detector (SDD) (50 mm2<\/sup>, risoluzione di 130eV a MnK\u03b1) interfacciato ad un’elettronica digitale estremamente veloce. Il sistema \u00e8 dotato di un video microscopio integrato per selezionare l’area da esaminare, mentre due puntatori laser consentono di controllare la distanza della testa di misura a 10 mm dalla superficie. Il fascio di raggi X pu\u00f2 essere collimato sulla superficie del campione ad un diametro di 0,5, 1 o 2 mm, selezionabile in remoto da pc mediante un software dedicato per l\u2019acquisizione. La testa \u00e8 montata su un telaio motorizzato XYZ (area di scansione 45 \u00d7 60 cm2<\/sup>) con movimento continuo in scansione. Il telaio \u00e8 montato su un carrello che consente l\u2019inclinazione della struttura tra -20\u00b0 e +90\u00b0 rispetto al piano orizzontale. La velocit\u00e0 di scansione pu\u00f2 arrivare fino a 45 mm\/sec, con un tempo di scansione che varia da poche decine di minuti a poche ore, in funzione della risoluzione spaziale e dell\u2019area da scansionare.<\/p>\n <\/p>\n Referente:<\/p>\n Laura Cartechini\u00a0<\/span>laura.cartechini@scitec.cnr.it<\/a><\/p>\n <\/p>\n Scarica la scheda completa<\/a><\/p>\n <\/p>\n <\/a><\/p>\n [\/et_pb_text][\/et_pb_column][\/et_pb_row][et_pb_row column_structure=”2_5,3_5″ _builder_version=”4.7.7″ _module_preset=”default”][et_pb_column type=”2_5″ _builder_version=”4.7.7″ _module_preset=”default”][et_pb_image src=”http:\/\/www.e-rihs.it\/wp-content\/uploads\/2024\/04\/IRIS-XGLab_Bruker.jpg” title_text=”IRIS XGLab_Bruker” _builder_version=”4.7.7″ _module_preset=”default”][\/et_pb_image][\/et_pb_column][et_pb_column type=”3_5″ _builder_version=”4.7.7″ _module_preset=”default”][et_pb_text _builder_version=”4.7.7″ _module_preset=”default”]<\/p>\n LABORATORIO: CNR SCITEC<\/strong><\/p>\n <\/strong><\/p>\n NOME STRUMENTO<\/strong><\/p>\n IRIS XGLab\/Bruker: Spettrometro combinato per fluorescenza a raggi X e riflettenza Vis-NIR in scansione<\/p>\n <\/p>\n INFORMAZIONI GENERALI<\/strong><\/p>\n IRIS \u00e8 uno strumento innovativo per misure combinate in scansione di spettroscopia di fluorescenza a raggi X e di spettroscopia Vis-NIR in riflessione. La spettroscopia di fluorescenza a raggi X a scansione (MAXRF) consente la mappatura multi-elementale (elementi con numero atomico Z>12) di macro-aree sulla superficie di un manufatto in modo non invasivo. In modo analogo l\u2019analisi in scansione mediante spettroscopia Vis-NIR in riflessione consente l\u2019acquisizione di immagini iperspettrali in un ampio intervallo spettrale (400-2500nm) che forniscono informazioni sia sulla distribuzione e che sulla natura chimica di pigmenti e, in generale, di componenti inorganiche (bande elettroniche, bande vibrazionali armoniche e di combinazione),\u00a0 e di componenti organiche (bande vibrazionali armoniche e di combinazione dei materiali organici naturali e sintetici) presenti sulla superficie indagata.<\/p>\n In IRIS l\u2019informazione ottenuta dalle due tecniche viene raccolta in modo combinato per ogni punto della superficie scansionata integrando l\u2019informazione chimica elementare con quella molecolare. Queste informazioni vengono tradotte in mappe chimiche di grande utilit\u00e0 nell\u2019ambito della scienza del patrimonio culturale per l’esame di superfici policrome e dell\u2019eventuale disegno preparatorio o di inchiostri in documenti storici.<\/p>\n <\/p>\n DETTAGLI TECNICI<\/strong><\/p>\n Il sistema IRIS di XGLab \u00e8 dotato di una testa di misura compatta e leggera composta da una sorgente a raggi X con anodo Rh (10-50kV e 5-200\u00b5A) e da un Silicon Drift Detector (SDD) (50 mm2<\/sup>, risoluzione di 130eV a MnK\u03b1) interfacciato ad un’elettronica digitale estremamente veloce. Nella testa di misura, \u00e8 allocato un sistema di fibre ottiche in uscita ed entrata per le misure Vis-NIR in riflessione. La sorgente di eccitazione \u00e8 una lampada alogena con uscita in fibra ottica ed emissione nel range 380- 2500 nm. Il sistema di rivelazione consiste in due spettrometri per coprire da 400-2500nm con risoluzione spettrale <2nm (400-1000 nm) e <9.5nm (1000-2500 nm). \u00a0Il sistema \u00e8 dotato di un video microscopio integrato per selezionare l’area da esaminare, mentre due puntatori laser consentono di controllare la distanza della testa di misura a 10 mm dalla superficie. Il fascio di raggi X pu\u00f2 essere collimato sulla superficie del campione ad un diametro di 0,5, 1 o 2 mm, mentre la risoluzione spaziale delle misure Vis NIR \u00e8 ~ 0.8 mm. Il tempo di integrazione \u00e8 tipicamente 30-50ms per pixel.<\/p>\n La testa \u00e8 montata su un telaio motorizzato XYZ (area di scansione 45 \u00d7 60 cm2<\/sup>) con movimento continuo in scansione. Il telaio \u00e8 montato su un carrello che consente l\u2019inclinazione della struttura tra -20\u00b0 e +90\u00b0 rispetto al piano orizzontale. La velocit\u00e0 di scansione pu\u00f2 arrivare fino a 45 mm\/sec, con un tempo di scansione che varia da poche decine di minuti a poche ore, in funzione della risoluzione spaziale e dell\u2019area da scansionare.<\/p>\n <\/p>\n Referente:<\/p>\n Laura Cartechini\u00a0<\/span>laura.cartechini@scitec.cnr.it<\/a><\/p>\n <\/p>\n