{"id":2965,"date":"2020-12-17T08:24:54","date_gmt":"2020-12-17T07:24:54","guid":{"rendered":"http:\/\/www.e-rihs.it\/?page_id=2965"},"modified":"2024-05-07T11:22:37","modified_gmt":"2024-05-07T10:22:37","slug":"low-energy-xrf-2","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/www.e-rihs.it\/en\/low-energy-xrf-2\/","title":{"rendered":"Low Energy XRF"},"content":{"rendered":"

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LABORATORIO:\u00a0 CNR ISPC –\u00a0XRAYLab<\/strong><\/p>\n

 <\/p>\n

NOME STRUMENTO <\/strong><\/p>\n

Spettrometro LE-XRF sviluppato presso il laboratorio XRAYLab di CNR-ISPC<\/p>\n

 <\/p>\n

INFORMAZIONI GENERALI<\/strong><\/p>\n

L\u2019analisi composizionale delle superfici applicata a materiale archeologico o ad oggetti di interesse storico artistico offre importanti informazioni sulla natura dei materiali e sulle tecnologie di fabbricazione. Tipicamente tali analisi vengono effettuate con strumentazione fissa (ad. esempio la tramite la tecnica PIXE che richiede l\u2019utilizzo di acceleratori) direttamente nei laboratori. In questa scheda viene presentata una modalit\u00e0 di applicazione della tecnica XRF particolarmente indicata per l\u2019analisi superficiale dei materiali. Come \u00e8 noto, la tecnica XRF convenzionale \u00e8 penetrante e le informazioni che si ottengono dalle analisi interessano strati di materiale di diverse decine di micron; inoltre, la tecnica XRF, seppure molto efficiente, spesso presenta limiti di rivelazione elevati nelle regione di bassa energia (a partire da 1keV) per elementi a basso numero atomico (come il Na e il Mg) a causa della presenza di un elevato fondo associato alla diffusione dello spettro continuo emesso dai tubi a raggi X.<\/p>\n

Presso XRAYLab di ISPC \u00e8 stato sviluppato uno spettrometro XRF particolarmente indicato per l\u2019analisi composizionale di superfici. Esso opera con un fascio di bassa energia (i parametri operativi del tubo sono 8kV per la tensione e 2mA per la corrente) il cui range analitico \u00e8 limitato ad alcuni micron nel caso di matrici pesanti (ad esempio per i metalli) e comunque inferiore a 20 micron nel caso di matrici pi\u00f9 leggere (ad es. ceramiche e vetri). Inoltre, dato che la radiazione continua emessa dal tubo presenta un massimo a soli 8 keV, la regione di bassa energia dello spettro presenta un basso rumore ed una pi\u00f9 elevata efficienza di rivelazione per elementi leggeri (a partire dal Na a circa 1keV).<\/p>\n

 <\/p>\n

DETTAGLI TECNICI<\/strong><\/p>\n

Il sistema portatile LE-XRF sviluppato presso il laboratorio XRAYLab di ISPC consiste di un tubo a raggi X operante a bassa tensione (8kV) ma con elevata corrente (2mA). La rivelazione dei raggi X di fluorescenza indotti sul campione dalla radiazione primaria viene effettuata con un rivelatore SDD da 80mm2<\/sup> e risoluzione energetica di 140eV a 5.9 keV. Lo spot del fascio sul campione da misurare \u00e8 pari a circa 3mm. Un flusso d\u2019elio, attivo durante le misure, consente di minimizzare gli assorbimenti dovuti alla presenza dell\u2019aria e di rivelare le righe caratteristiche di bassa energia emesse dagli elementi leggeri a partire dal sodio (a circa 1keV). Gli elementi di medio numero atomico sono rivelati mediante le righe di fluorescenza della serie K (ad es. Ca, Ti, Fe, Mn), mentre gli elementi pesanti vengono invece rivelati tipicamente mediante le righe caratteristiche di bassa energia delle serie M (ad es. Hg, Pb e Au) o delle serie L (ad es. Ag e Sn).<\/p>\n

 <\/p>\n

Referente:<\/p>\n

Paolo Romano\u00a0francescopaolo.romano@cnr.it<\/a><\/p>\n

 <\/p>\n

Scarica la scheda completa<\/a><\/p>\n

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